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主营探针测试平台、探针源测系统、半导体分析综合系统、光电分析综合系统、定制综合测试平台及系统。 公司已开发微直流/光电/射频/微波/光波/特殊应用定制等全系列常温/高温/高低温/真空环境探针测试平台、半导体器件参数测试系统、光电耦合测试系统、射频/微波器件测试系统、功率器件高压/大电流测试系统等产品。

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